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Produits

Park Systems possède la gamme d’outils de microscopie et de métrologie à l’échelle nanométrique la plus précise au monde pour les applications de recherches et industrielles. Nos fonctionnalités innovantes, tel le mode « True-Non Contact™ » et le changement de pointe automatique, distinguent nos produits de la concurrence et font des AFM Park Systems les systèmes les plus faciles à utiliser et les plus avancés actuellement disponibles sur le marché.


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Park Systems fournit une gamme d’AFM populaires pour la recherche généraliste et les applications industrielles. Conçus pour être extrêmement polyvalents tout en fournissant la précision et les fonctionnalités nécessaires à un travail de grande qualité, notre ligne d’AFM généralistes offre aux chercheurs tout comme aux ingénieurs la possibilité d’obtenir des résultats extrêmement précis rapidement et facilement.

Applications:

  • Matériaux
  • Électricité et électronique
  • Science du vivant
  • Analyse de défaillance
  • Semi-conducteurs
  • Support disque dur

 

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Chez Park Systems, nous comprenons que dans ce monde hautement concurrentiel, les chercheurs ne peuvent pas se permettre de se soucier de la précision de leurs instruments. C’est la raison pour laquelle nous avons développé le Park NX10, l’AFM le plus précis et le plus facile à utiliser au monde.

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On demande aux chercheurs généralistes et industriels tout comme aux ingénieurs FA des résultats. Il n’y a pas de place pour l’erreur dans les données fournies par leurs instruments. C’est la raison pour laquelle le Park NX20, avec sa réputation d’AFM à grand échantillon le plus précis au monde, est très bien noté par les chercheurs et les professionnels FA dans le monde entier.

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Le Park XE15 comprend de nombreuses capacités uniques qui le rendent idéal pour les laboratoires et les centres de recherche qui traitent de gros volumes et ont besoin d’un AFM qui peut prendre en charge un large éventail d’échantillons. Son prix raisonnable et son solide ensemble de fonctionnalités en font également un des AFM au meilleur rapport qualité prix du marché.

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Le Park XE7 est l’AFM de recherche le plus accessible (à la fois au niveau du prix initial que du coût total de possession). Il est donc idéal pour les départements qui ont besoin d’un AFM puissant ou d’un outil pédagogique, mais qui ont un budget serré. Il dispose du mode « True Non-Contact™ » pour que vous puissiez économiser sur le coût des pointes. Il est également conçu pour durer et est hautement évolutif, pour que vous soyez capable de l’utiliser dans votre laboratoire plus longtemps que de nombreux AFM concurrents.

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Le Park NX-Hivac est un AFM à vide poussé, conçu pour fournir des résultats précis d’analyse de défaillance sur des semi-conducteurs fortement dopés. En utilisant la technologie qui fait la réputation de Park, le Park NX-Hivac est un véritable AFM à vide poussé permettant de fournir des mesures de haute résolution, de faible niveau de bruit, reproductibles et faciles à obtenir. Ceci en fait le choix idéal pour les laboratoires qui cherchent à améliorer leur rendement et leur précision de mesure.

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La recherche biologique était un des domaines à plus forte croissance du 20ème siècle. Les AFM Park ont joué un rôle crucial dans ce secteur, en donnant aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour développer de nouvelles idées au sein des processus et des structures vastes et complexes de la biologie.

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Le Park NX10 Scanning Ion Conductance Microscope (SICM) permet aux chercheurs d’obtenir des mesures précises des échantillons dans des environnements aqueux. Les études d’électrochimie qui utilisent le SICM peuvent à présent associer leurs recherches des mécanismes de réactions en lien avec la chimie redox et d’autres phénomènes avec la possibilité de cartographier la topographie de leurs échantillons. La corrélation entre ces ensembles de données a d’immenses implications pour les applications comme le développement de batteries de nouvelles générations pour lequel le SICM peut mesurer la performance d’une batterie par rapport à sa dégradation à l’échelle nanométrique. Le Park NX10 SICM peut également représenter un avantage considérable pour les travaux en biologie cellulaire. Contrairement à l’AFM, le SICM n’applique aucune force aux échantillons ce qui signifie que les biologistes cellulaires peuvent étudier les cellules vivantes sans les perturber, ouvrant ainsi de nouvelles voies de recherche dans la compréhension du fonctionnement de ces unités de vie. Le module SICM du Park NX10 peut également être acheté en tant qu’option à votre AFM Park NX10 permettant ainsi une transition facile entre ces deux techniques et créant un outil encore plus complet pour l’analyse de spécimens.

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park-nx-bio

We understand that as a nanoscale biology researcher, you need versatile, powerful tools to do innovative research efficiently. That’s why we created the Park NX-Bio, which combines an Scanning Ion Conductance Microscope (SICM), a True Non- Contact Mode™ Atomic Force Microscope (AFM) and an Inverted Optical Microscope into one powerful imaging tool.

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Park Systems ne se consacre pas uniquement à faire avancer la recherche, mais également l’industrie. C’est la raison pour laquelle nos concepteurs ont travaillé pour mettre au point les AFM les plus efficaces pour les ingénieurs d’analyse de défaillance et les applications industrielles. Permettant aux utilisateurs de faire des mesures extrêmement précises et terminer leur travail plus rapidement, ces outils permettent d’améliorer l’efficacité sur le lieu de travail et réduire les erreurs, ce qui conduit à un processus de production et de développement plus rentable et plus cohérent.

Applications:

  • Analyse de défaillance
  • Analyse de semi-conducteurs
  • Analyse de supports disque dur

 

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L’identification des défauts à l’échelle nanométrique est un processus qui prend du temps. Le Park NX-HDM est un système de microscopie à force atomique qui accélère le processus d’examen des défauts d’un ordre de grandeur par l’identification, le balayage et l’analyse automatique des défauts. Le Park NX-HDM est en lien direct avec une large gamme d’outils d’inspection optique, améliorant ainsi de façon significative le rendement d’examen automatique des défauts. Avec le plus bas niveau de bruit du secteur, et sa technologie « True Non-Contact™ » unique, le NX-HDM est l’AFM le plus précis pour la mesure de la rugosité de surface existant sur le marché.

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Le Park NX-PTR est une solution industrielle AFM entièrement automatisée pour les mesures automatiques des têtes de disque dur. Avec une précision en-dessous du nanomètre et une forte reproductibilité, le Park NX-PTR est l’outil de métrologie de choix permettant d’améliorer le rendement global en production.

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Le Park NX-Wafer est le seul AFM de fabrication de wafers avec examen automatique des défauts. Ceci lui donne la possibilité d’augmenter le rendement de votre laboratoire d’un maximum de 1000% tout en garantissant un haut niveau de précision et de contrôle qualité en scannant des wafers d’une taille de 300mm maximum.

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park-nx-3dm

Park Systems a introduit la série révolutionnaire 3DM. Ce système AFM entièrement automatisé est conçu pour les profils en surplomb, l’imagerie de parois latérales haute résolution et les mesures d’angles critiques. Avec le système de balayage XY, Z découplés et la possibilité d’incliner la tête en Z, il surmonte les défis liés à l’analyse précise de parois latérales. En utilisant notre mode « True Non-Contact™, » la série Park 3DM permet une mesure non destructive des surfaces photosensibles souples à l’aide de pointes HAR.

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